Influencia de la Posición en la Monitorización de la Tensión de Materiales Compuestos con Microhilos Magnéticos

  • Garcia-Etxabe, Rafael (GAIKER Technology Centre)
  • Mendinueta, Maitane (GAIKER Technology Centre)
  • Camacho, Marta (GAIKER Technology Centre)
  • Vallejo, Francisco Javier (IDEKO Technology Centre)
  • Zhukov, Arcady (UPV/EHU (University Basque Country))
  • Zhukova, Valentina (UPV/EHU (University Basque Country))

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Las propiedades de los materiales magnéticos blandos los han convertido en unos magníficos candidatos para su uso como sensores en la monitorización de materiales, aplicaciones y procesos, habiendo ya encontrado aplicación en múltiples sectores. Además, la posibilidad de ser conformados como microhilos garantiza una excelente integración en la estructura del composite, lo que los posiciona en un lugar inmejorable para la monitorización de materiales reforzados. En el centro tecnológico GAIKER, en el marco de los proyectos INFINITE y MOSINCO se han puesto a punto técnicas de caracterización y el equipamiento necesario para evaluar el comportamiento de las propiedades electromagnéticas frente a distintos estímulos. Estas investigaciones han permitido analizar tanto el ciclo de histéresis como los parámetros de dispersión en transmisión y reflexión en el rango de las microondas, en situaciones como la polimerización de matrices compuestos, o sometiendo a las piezas a distintos estados tensionales. Así, se ha podido demostrar que existe una clara dependencia de los parámetros de dispersión y la impedancia con la tensión aplicada que es posible monitorizar. Sin embargo, a pesar de la repetitividad del fenómeno, la modelización de este comportamiento no resulta sencilla debido a la dispersión de los resultados como consecuencia de la influencia de múltiples factores y distintas situaciones que, en un ambiente convencional condicionan el resultado. En este trabajo se analiza la influencia de la posición relativa de la muestra en dichas medidas y se presentan los resultados obtenidos al modificar la posición y orientación de los microhilos realizando movimientos de giro y volteo de la pieza bajo ensayo.